關(guān)鍵詞 |
,SEM+EDS分析 |
面向地區(qū) |
故障分析:對(duì)于飛機(jī)或其他航空器出現(xiàn)的故障,SEM+EDS可以用于分析故障原因。例如,當(dāng)飛機(jī)出現(xiàn)腐蝕、疲勞或機(jī)械損傷等問(wèn)題時(shí),SEM可以觀察到這些缺陷的微觀形貌,而EDS可以分析缺陷部位的元素組成。這有助于確定故障的源頭和原因。
工藝優(yōu)化:SEM+EDS可以用于優(yōu)化航空航天領(lǐng)域的制造工藝。例如,對(duì)于航空器的制造過(guò)程,SEM可以觀察到焊接、釬焊等工藝的微觀結(jié)構(gòu),而EDS可以分析焊接區(qū)域中的元素分布。這有助于優(yōu)化工藝參數(shù)和提高制造質(zhì)量。
SEM+EDS分析是一種組合技術(shù),結(jié)合了掃描電子顯微鏡(SEM)的高分辨率成像和能量散射光譜儀(EDS)的元素分析能力,適用于各種固體材料的表面形貌和成分分析。
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